Technika

Spektroskopia fluorescencyjna

Warunki pomiaru:

• zakres rejestrowanego widma 220-800nm
• szerokość szczeliny 2,5 – 20 nm
• dokładność długości fali ± 3,0 nm
• szybkość skanowania długości fali 15, 60, 300, 1500, 3000 nm / min
• aparat wyposażony w przystawkę  dla kuwet o długości drogi optycznej do 10 mm oraz przystawkę do pomiarów warstw.

Możliwości badawcze

Zestaw pomiarowy umożliwia rejestrację widm ekscytacyjnych i emisyjnych dla roztworów oraz warstw. 

Kierownik Pracowni:  

Prof. dr hab. Ewa Schab-Balcerzak, ebalcerzak@cmpw-pan.pl.pl, tel. 32 271-60-77 w. 112

Osoba odpowiedzialna/wykonująca analizy:  

Dr inż. Mariola Siwy, msiwy@cmpw-pan.pl.pl, tel. 32 271-60-77 w. 113