Technika

Mikroskopia świetlna

Warunki pomiaru:

• światło odbite:
• obiektywy imersyjne  – 20x, 40x, 50x 
• obiektywy zwykłe – 8x, 16x
• światło przechodzące – obiektywy zwykłe: 10x, 20x, 40x 
• cyfrowy aparat fotograficzny

Możliwości badawcze:

• Analiza mikrostruktury węgli i materiałów węglowych oraz innych próbek odbijających światło
• Analiza mikrostruktury materiałów przezroczystych

Kierownik Pracowni:

Dr hab. Sławomira Pusz, spusz@cmpw-pan.pl, tel. . +48 32 271 60 77 w. 250

Osoba odpowiedzialna/wykonująca analizy: 

Dr hab. Sławomira Pusz, spusz@cmpw-pan.pl, tel. . +48 32 271 60 77 w. 250