Author: admin

Warunki pomiaru: Zakres spektralny (200 - 2500)nm; Pomiar dwuwiązkowy; Pomiary transmisyjne (absorpcja) lub odbiciowe; Pomiary temperaturowe ciał stałych, w zakresie temp.(10 - 600) °C   Możliwości badawcze: Pomiary absorbcji roztworów; tworzenie krzywych kalibracyjnych i wyznaczanie stężenia substancji. Pomiary transmisji oraz odbicia podstawowego lub rozproszonego cienkich warstw i folii; wyznaczanie

Technika Dynamiczna analiza właściwości dielektrycznych Warunki pomiarów: Możliwości badawcze: Badanie właściwości dielektrycznych, tj. przenikalności dielektrycznej, współczynnika stratności, tg delta i przewodnictwa jonowego w funkcji czasu, temperatury oraz częstotliwości, Wyznaczania temperatury i energii relaksacji molekularnych, Monitorowanie sieciowania i polimeryzacji. Kierownik Pracowni: Dr hab. inż. Urszula Szeluga, uszeluga@cmpw-pan.pl, tel. tel. 32

Technika Dynamiczna termiczna analiza właściwości mechanicznych (DMA) Warunki badawcze: Możliwości badawcze: Wymienna geometria pomiarowa umożliwia prowadzenie pomiarów w trybie zginania, rozciągania,ściskania oraz ścinania w funkcji temperatury, częstotliwości czy też naprężeń lub odkształcenia. Badania właściwości lepkosprężystych materiałów, takich jak sztywność, moduł zachowawczy oraz moduł stratności, lepkość, właściwości tłumiące,

Technika Różnicowa Kalorymetria Skaningowa Warunki pomiaru: Możliwości badawcze: Wyznaczanie temperatury i entalpii przejść fazowych (topnienia, krystalizacji), Wyznaczanie temperatury zeszklenia polimerów, Badanie kinetyki reakcji polimeryzacji, sieciowania, syntezy, rozkładu, utleniania itp.  i wyznaczanie ich energii aktywacji, Badanie stopnia krystaliczności polimerów, Badanie własności termicznych nowych związków chemicznych, Oznaczanie czystości związków małocząsteczkowych. Kierownik Pracowni: Prof. dr hab.

Technika Mikroanaliza rentgenowska EDS Możliwości badawcze: analiza ilościowa składu pierwiastkowego (Z>3) w mikroobszarach oraz analiza jakościowa w nanoobszarach. próg detekcji EDS >0,1% (wag.) zależny od pierwiastka; typowa rozdzielczość przestrzenna>1μm. Kierownik Pracowni: Dr hab. Sławomira Pusz, spusz@cmpw-pan.pl, tel. +48 32 271 60 77 w. 250 Osoby decydujące i/lub wykonująca analizy: Dr inż. Marcin Godzierz, mgodzierz@cmpw-pan.pl, tel. +48

Technika Mikroskopia sił atomowych (AFM) Warunki pomiaru: Obrazowanie topografii powierzchni próbki przy użyciu trybu kontaktowego oraz przerywanego kontaktu (TappingMode) Możliwość obrazowania w atmosferze cieczy (woda) Możliwość obrazowania w podwyższonej temperaturze (do 60°C)  Obrazowanie próbek o średnicy do 1,5 cm i grubości do 0,5 cm, litych lub

Technika                                                                Analiza termograwimetryczna Warunki pomiaru: Temperatura 25 do 900 ºC, Szybkość grzania 2-20°C/min., Praca w powietrzu lub w azocie, Masa próbki 10 -100 mg. Możliwości badawcze Pomiar zmiany masy próbki w funkcji temperatury lub czasu z równoczesną analizą termiczną. Badanie stabilności termicznej próbek. Kierownik Pracowni:   Prof. dr hab. Grażyna Adamus, gadamus@cmpw-pan.pl, tel. 32 271

Detektor refraktometryczny RI-101, Shodex Detektor UV-Vis Spectra 100 variable wevelenght detector, Spectra-Physics PompaVE 1122 solvent delivery system, VISCOTEC, Malvern Technika Chromatografia żelowa  Warunki pomiaru: Środowisko chloroform, temperatura 35°C. Możliwości badawcze: Wyznaczanie liczbowo (Mn) i wagowo (Mw) średnich mas molowych oraz rozkładów mas molowych. Kierownik Pracowni:   Prof. dr hab. Grażyna Adamus, gadamus@cmpw-pan.pl, tel. 32 271