Lorem ipsum dolor sit amet, conse ctetur adip elit, pellentesque turpis.

Author: admin

0
Aparatura CMPW-PAN

detektor MALLS DAWN HELEOS firmy WYATT detektor refraktometryczny Dn-2010 WGE firmy Dr. Bures,  pompa izokratyczna AGILENT 1260 firmy Agilent Technologies Technika Chromatografia żelowa Sec-MALLS (GPC-MALLS) Warunki pomiaru:  Środowisko THF, temperatura 35°C. Możliwości badawcze: Wyznaczanie liczbowo (Mn) i wagowo (Mw) średnich mas molowych oraz rozkładów mas molowych. Kierownik Pracowni:  Dr hab. inż. Agnieszka Kowalczuk, akowalczuk@cmpw-pan.pl;

0
Aparatura CMPW-PAN

Warunki pomiaru: Lampy katodowe do oznaczania srebra i miedzi Stężenieoznaczanego pierwiastka w próbce> 0,2 mg/L Możliwości badawcze: Oznaczanie stężenia srebra w roztworze Oznaczenie stężenia miedzi w roztworze Kierownik Pracowni:  Dr hab. inż. Agnieszka Kowalczuk, akowalczuk@cmpw-pan.pl; tel. . +48 32 271 60 77 w. 235 Osoba odpowiedzialna/wykonująca analizy: dr Barbara Mendrek, bmendrek@cmpw-pan.pl; tel. . +48

0
Aparatura CMPW-PAN

Technika Dynamiczne rozpraszanie światła Warunki pomiaru: Zakres temperatury pomiaru od 0 ºC do 90ºC Laser o długości fali 633 nm i mocy wyjściowej 4mW Próbka w postaci rozcieńczonych roztworów  Możliwości badawcze: Pomiar potencjału zeta Pomiar wielkości cząstek (promienia hydrodynamicznego) Pomiar mobilności elektroforetycznej Kierownik Pracowni:  Dr hab. inż. Agnieszka Kowalczuk, akowalczuk@cmpw-pan.pl; tel. . +48

0
Aparatura CMPW-PAN, Aparatura Zakupiona ze środków RPO woj. Śląskiego

Technika Dynamiczne i statyczne rozpraszanie światła Warunki pomiaru: Zakres temperatury pomiaru od 15 ºC do 80ºC Laser półprzewodnikowy o długości fali 637 nm i mocy wyjściowej 40mW Próbka w postaci rozcieńczonych roztworów Możliwości badawcze: Pomiar statycznego i dynamicznego rozpraszania światła przez rozcieńczone roztwory Wyznaczanie rozkładów rozmiarów Wyznaczanie promienia hydrodynamicznego  Wyznaczanie

0
Aparatura CMPW-PAN

Technika Skaningowa Mikroskopia elektronowa (SEM) Środowiskowa skaningowa mikroskopia elektronowa (ESEM) Technika wet-STEM do badań próbek mokrych lub w zawiesinie Warunki pomiaru: Działo elektronowe – emiter Schottky'ego Napięcie przyspieszające:200 V – 30kV Rozdzielczość < 3 nm, zależnie od trybu próżniowego i napięcia przyspieszającego Tryb wysokiej próżni Tryb niskiej próżni (do 300

0
Aparatura CMPW-PAN, Aparatura Zakupiona ze środków RPO woj. Śląskiego

Technika Transmisyjna mikroskopia elektronowa z trybem cryo-TEM oraz techniką tomografii elektronowej Warunki pomiaru: Działo elektronowe – emisja polowa (FEG) Napięcie przyspieszające ≤ 200kV Możliwość rejestracji obrazów cryo-TEM, HRTEM, BF/DF TEM i SAD Technika cryo-TEM próbek mokrych lub w zawiesinie Możliwość pracy w trybie LowDose Możliwość w pełni automatycznej akwizycji serii

Skip to content