Vitrobot Mark IV/ThermoFisher Scientific współpracujący z mikroskopem TEM Tecnai F20 TWINTechnikaVitrobot Mark IV/ThermoFisher Scientific
Urządzenie do witryfikacji zanurzeniowej próbek zawiesin w kontrolowanych warunkach temperatury i wilgotności dla potrzeb techniki cryo-TEM Warunki pomiaru Automatyczny proces szokowego zamrażania próbki w czynniku kriogenicznym (ciekły etan, propan, azot), Proces aplikowania próbki na siatkę, przy zapewnionej kontroli: temperatury – w zakresie od
Kamera RIO 16 typu CMOS / GATAN pracująca w zestawie z mikroskopem TEM Tecnai F20 TWIN Kamera RIO 16 typu CMOS / GATAN
Kamera do akwizycji obrazów TEM ze specjalistycznym oprogramowaniem do tomografii elektronowej, Warunki pomiaru Kamera typu CMOS (Complementary Metal Oxide Semiconductor) ze sprzężeniem światłowodowym pracująca przy napięciu przyspieszającym ≤ 200 kV. Możliwości badawcze Współpracuje z mikroskopem TEM w trybie pracy LowDose Możliwość rejestracji obrazów cryo-TEM, HRTEM, BF/DF TEM i SAD Możliwość w
Chromatograf żelowy z układem detektorów
Detektor MALLS DAWN HELEOS firmy WYATT Detektor refraktometryczny SEC-3010 WGE firmy Dr. Bures, Detektor UV-Vis Agilent 1260 firmy Agilent Technologies Pompa izokratyczna AGILENT 1260 firmy Agilent Technologies Technika Chromatografia żelowa Sec MALLS Warunki pomiaru Środowisko DMF, temperatura 45°C. Możliwości badawcze Wyznaczanie liczbowo (Mn) i wagowo (Mw) średnich mas molowych oraz rozkładów mas
Modułowe urządzenie przetwórcze (Brabender)
Technika Przetwórstwo tworzyw polimerowych Warunki pomiaru: Jednostka sterująco-napędowa Brabender Lab Station Plasti-corder: Moment obrotowy napędu 400 Nm (odchylenie momentu obrotowego 0,15%), Zakres pracy jednostki od 0,2 obrotów/min do 350 obrotów/min, Ślimaki segmentowe, Pomiar momentu obrotowego w pełnym zakresie możliwości napędu, Możliwość pracy z modułami mieszającymi periodycznymi oraz wytłaczającymi jedno-
Pompy strzykawkowe wysokociśnieniowe do przetwórstwa wysoko-lepkich cieczy (Harvard)
Technika Aparatura dozująca do wysoko-lepkich cieczy Kierownik Pracowni: Prof. dr hab. Janusz Kasperczyk, jkasperczyk@cmpw-pan.pl; tel. . +48 32 271 60 77 w. 230 Osoba odpowiedzialna i wykonująca analizy: Dr Mateusz Stojko, mstojko@cmpw-pan.pl, tel. +48 32 271 60 77 w. 151
Reaktor mikrofalowy Anton Paar Monowave 400
Technika Reakcje chemiczne z wykorzystaniem mikrofal Warunki pomiaru - Czujnik temperatury: IR 30- 300oC ± 5oC, Termometr rubinowy: 30- 300oC ± 2oC- Maksymalna moc mikrofal 850W bezimpulsowo w całym zakresie- Czujnik ciśnienia 0- 30 ± 2 bar- Kompresor DK 50 PLUS DRY z
Mikroskop optyczny polaryzacyjny do światła odbitego i przechodzącego Axioskop/ZEISS, Niemcy
Technika Mikroskopia świetlna Warunki pomiaru: światło odbite: obiektywy imersyjne - 20x, 40x, 50x obiektywy zwykłe – 8x, 16x światło przechodzące – obiektywy zwykłe: 10x, 20x, 40x cyfrowy aparat fotograficzny Możliwości badawcze: Analiza mikrostruktury węgli i materiałów węglowych oraz innych próbek odbijających światło Analiza mikrostruktury materiałów przezroczystych Kierownik Pracowni: Dr hab. Sławomira Pusz, spusz@cmpw-pan.pl, tel. .
Analizator wielkości cząstek metodą spektroskopii tłumienia akustycznego (APS-100) /MatecApplied Sciences (p. 250)
Technika Pomiar rozkładu wielkości cząstek metodąspektroskopii tłumienia akustycznego Warunki pomiaru: Temperatura 25 – 30 oC Próbki stałe w zawiesinach wodnych lub organicznych o stężeniu od 0.1 – 50% obj. Zawiesina mieszana podczas pomiaru, co zapobiega sedymentacji i agregacji. Możliwości badawcze: Określanie rozkładu wielkości cząstekstałych w zakresie od 10
Elipsometr spektroskopowy SENTECH SE850E
Technika Elipsometria spektroskopowa, elipsometria zmienno-temperaturowa cienkich warstw Warunki pomiaru: Zakres spektralny 240 - 2500 nm Pomiary w modzie odbiciowym Pomiary w modzie transmisyjnym Pomiary temperaturowe w zakresie od –150 ⁰C do + 450⁰C Możliwość pomiaru rezystancji elektrycznej, jednocześnie z pomiarami elipsometrycznymi Możliwości badawcze: Pomiary bez konieczności modelowania: kąty elipsometyczne Ψ
Spektrofluorymetr Hitachi FL-2500
Technika Spektroskopia fluorescencyjna Warunki pomiaru: zakres rejestrowanego widma 220-800nm szerokość szczeliny 2,5 – 20 nm dokładność długości fali ± 3,0 nm szybkość skanowania długości fali 15, 60, 300, 1500, 3000 nm / min aparat wyposażony w przystawkę dla kuwet o długości drogi optycznej do 10 mm oraz przystawkę