Technika

Dyfrakcja Promieni Rentgenowskich

Techniki pomiarowe: standardowa dyfrakcja rentgenowska, transmisja w cienkich warstwach oraz w kapilarach, grazingincidence (GIXRD), reflektometria (XRR), pomiary naprężeń szczątkowych metodą izo-inklinacji oraz pomiary naprężeń podczas rozciągania – z wykorzystaniem przystawki DEBEN,

Warunki pomiaru:

• Moc maksymalna 3,0 kW, napięcie prądu 20-50kV (krok 1 kV), natężenie prądu 5-60mA (krok 1 mA); typowe parametry pracy: 40 kV, 40 mA
• Lampa rentgenowska 2,2 kW z anodą Cu, o ognisku typu: „long fine Focus”,
• Detektor Lynx EYE XE-T – szybki licznik energodyspersyjny w technologii paskowej, pracujący w trybie 0D, 1D, 2D,
• Próbki proszkowe, lite, folie, warstwy na podłożu, zawiesiny.

Możliwości badawcze: 

• Jakościowa, półilościowa i ilościowa analiza fazowa przy użyciu baz danych ICCD PDF#2 i COD,
• Określenie wartości parametrów sieciowych, rozmiarów krystalitów i stopnia krystaliczności materiału,
• Określanie grubości (do 200 nm) i struktury warstw (GIXRD, XRR),
• Pomiary w zakresie niskokątowym (od 0.5°) próbek w zawiesinach przy wykorzystaniu geometrii transmisyjnej,
• Pomiary naprężeń szczątkowych z wykorzystaniem metody izo-inklinacji (residua stress),
• Pomiary zmian naprężeń podczas rozciągania przy wykorzystaniu przystawki DEBEN.

Kierownik Pracowni:

Dr hab. Sławomira Pusz, spusz@cmpw-pan.pl, tel. . +48 32 271 60 77 w. 250

Osoba odpowiedzialna i wykonująca analizy:

Mgr inż. Marcin Godzierz; mgodzierz@cmpw-pan.pl, tel. +48 32 271 60 77 w. 105