Technika

Mikroskopia sił atomowych (AFM) do charakterystyki powierzchni materiałów polimerowych i węglowych oraz struktur biologicznych

Warunki pomiaru:

• obrazowanie topografii powierzchni próbki przy użyciu trybu kontaktowego oraz przerywanego kontaktu (Tapping Mode)
• obrazowanie w temperaturze pokojowej
• możliwość obrazowania w atmosferze powietrza lub cieczy (woda)
• obrazowanie próbek o wymiarach: o średnicy do 21 cm i grubości do 1,5 cm, litych lub osadzonych na podłożu
• otrzymywanie map o wymiarach od ok. 500 nm do 90 µm w osi XY oraz do 10 µm w osi Z z rozdzielczością do 5120×5120

Możliwości badawcze:

Charakterystyka powierzchni materiałów polimerowych i węglowych oraz struktur biologicznych, w tym: 

• mapowanie powierzchni próbki względem właściwości nanomechanicznych (tryb PF-QNM) – adhezja, deformacja, Moduł Young’a, rozproszenie.
• mapowanie powierzchni próbki względem przewodności elektrycznej (tryb PF-TUNA) – tylko dla próbek przewodzących.
• mapowanie powierzchni próbki względem właściwości magnetycznych (tryb MFM).

Kierownik Pracowni:

Dr hab. Sławomira Pusz, spusz@cmpw-pan.pl, tel. +48 32 271 60 77 w. 250

Osoba odpowiedzialna i wykonująca analizy:

Mgr inż. Andrzej Marcinkowski amarcinkowski@cmpw-pan.pl, tel. 32 271 60 77 w. 132