Technika

Mikroskopia sił atomowych (AFM)

Warunki pomiaru:

• Obrazowanie topografii powierzchni próbki przy użyciu trybu kontaktowego oraz przerywanego kontaktu (TappingMode)
• Możliwość obrazowania w atmosferze cieczy (woda)
• Możliwość obrazowania w podwyższonej temperaturze (do 60°C) 
• Obrazowanie próbek o średnicy do 1,5 cm i grubości do 0,5 cm, litych lub osadzonych na podłożu.
• Otrzymywanie map topografii o wymiarach od 500 nm do 14 µm w osi XY oraz do 2,8 µm w osi Z, z rozdzielczością w osi Z poniżej 0.3 Å.

Możliwości badawcze:

Charakterystyka powierzchni materiałów polimerowych i węglowych oraz struktur biologicznych w temperaturze pokojowej, w atmosferze powietrza lub w cieczy (woda)

Kierownik Pracowni:

Dr hab. Sławomira Pusz, spusz@cmpw-pan.pl, tel. +48 32 271 60 77 w. 250

Osoba odpowiedzialna i wykonująca analizy:

Mgr inż. Andrzej Marcinkowski amarcinkowski@cmpw-pan.pl, tel. 32 271 60 77 w. 132