Technika

Skaningowa Mikroskopia elektronowa (SEM)

Środowiskowa skaningowa mikroskopia elektronowa (ESEM)

Technika wet-STEM do badań próbek mokrych lub w zawiesinie

Warunki pomiaru:

• Działo elektronowe – emiter Schottky’ego
• Napięcie przyspieszające:200 V – 30kV
• Rozdzielczość < 3 nm, zależnie od trybu próżniowego i napięcia przyspieszającego
• Tryb wysokiej próżni
• Tryb niskiej próżni (do 300 Pa)
• Tryb środowiskowy (ESEM) (do 4000 Pa)
• Detektory:
• elektronów wtórnych (ETD, LFD, GSED)
• elektronów wstecznie rozproszonych (BSED, vCD)
• wet-STEM/SEM ze stolikiem Peltiera
• W zestawie napylarka do napylania próbek nieprzewodzących warstwą Au.

Możliwości badawcze:

• Informacje o (mikro)strukturze powierzchni w szerokim zakresie powiększeń,
• Analiza morfologii i struktury układów warstwowych, przekrojów poprzecznych, przełomów  i proszków; 
• Określanie wielkości obiektów, w tym nanocząstek,
• Wet-STEM/SEM – obrazowanie próbek mokrych lub w zawiesinie

Kierownik Pracowni:

Dr hab. Sławomira Pusz, spusz@cmpw-pan.pl, tel.+48 32 271 60 77 w. 250

Osoba decydująca i/lub wykonująca analizy:

Dr inż. Marcin Godzierz, mgodzierz@cmpw-pan.pl,tel. +48 32 271 60 77 w. 104Mgr inż. Karolina Olszowska, kolszowska@cmpw-pan.pl, tel. +48 32 271 60 77 w. 260