Technika

Spektrometria FT-IR

Warunki pomiaru:

• zakres podczerwieni (400-4000 cm^-1) z maksymalną rozdzielczością 0,09 cm^–1. 
• detektor DLaTGS
• aparat wyposażony w przystawki: 

– transmisyjną

– Smart Orbit z kryształem diamentowym oraz ZnS firmy ThermoScientific – działającej w oparciu o metodę osłabionego całkowitego wewnętrznego odbicia ATR (ang. Attenuated Total Reflection)

– PIKE Vee Max II o zmiennym kącie – umożliwiającej pomiar cienkich warstw osadzonych na podłożach 

• zestaw komputerowy z programem analizy widm OMNIC

Możliwości badawcze:

• Określenie struktury chemicznej i składu jakościowego materiałów
• Aparat umożliwia rejestrację widm FT-IR ciał stałych w formie proszku, granulatu, folii lub cienkiej warstwy oraz analizę jakościową materiałów

Kierownik Pracowni:  

Dr hab inż. Agnieszka Kowalczuk, akowalczuk@cmpw-pan.pl; tel. . +48 32 271 60 77 w. 235.

Osoba odpowiedzialna/wykonująca analizy:  

dr hab. Alicja Utrata-Wesołek, autrata@cmpw-pan.pl; tel. . +48 32 271 60 77 w. 298