Spektrometr absorpcji atomowej w wersji płomieniowej AA240FSAgilent Technologies
Warunki pomiaru: Lampy katodowe do oznaczania srebra i miedzi Stężenieoznaczanego pierwiastka w próbce> 0,2 mg/L Możliwości badawcze: Oznaczanie stężenia srebra w roztworze Oznaczenie stężenia miedzi w roztworze Kierownik Pracowni: Dr hab. inż. Agnieszka Kowalczuk, akowalczuk@cmpw-pan.pl; tel. . +48 32 271 60 77 w. 235 Osoba odpowiedzialna/wykonująca analizy: dr Barbara Mendrek, bmendrek@cmpw-pan.pl; tel. . +48
Zetasizer NANO ZS90, Malvern/Panalytical, UK
Technika Dynamiczne rozpraszanie światła Warunki pomiaru: Zakres temperatury pomiaru od 0 ºC do 90ºC Laser o długości fali 633 nm i mocy wyjściowej 4mW Próbka w postaci rozcieńczonych roztworów Możliwości badawcze: Pomiar potencjału zeta Pomiar wielkości cząstek (promienia hydrodynamicznego) Pomiar mobilności elektroforetycznej Kierownik Pracowni: Dr hab. inż. Agnieszka Kowalczuk, akowalczuk@cmpw-pan.pl; tel. . +48
Goniometr BI-200 z autokorelatorem PCI BI-9000AT Brookhaven Instruments Corp., USA
Technika Dynamiczne i statyczne rozpraszanie światła Warunki pomiaru: Zakres temperatury pomiaru od 15 ºC do 80ºC Laser półprzewodnikowy o długości fali 637 nm i mocy wyjściowej 40mW Próbka w postaci rozcieńczonych roztworów Możliwości badawcze: Pomiar statycznego i dynamicznego rozpraszania światła przez rozcieńczone roztwory Wyznaczanie rozkładów rozmiarów Wyznaczanie promienia hydrodynamicznego Wyznaczanie
Skaningowy mikroskop elektronowy SEM/Quanta/FEG 250/FEI (aktualnie ThermoFisherScientific)
Technika Skaningowa Mikroskopia elektronowa (SEM) Środowiskowa skaningowa mikroskopia elektronowa (ESEM) Technika wet-STEM do badań próbek mokrych lub w zawiesinie Warunki pomiaru: Działo elektronowe – emiter Schottky'ego Napięcie przyspieszające:200 V – 30kV Rozdzielczość < 3 nm, zależnie od trybu próżniowego i napięcia przyspieszającego Tryb wysokiej próżni Tryb niskiej próżni (do 300
Transmisyjny mikroskop elektronowy TEM TecnaiG2 F20 X-TWIN/FEI (aktualnieThermoFisher Scientific)
Technika Transmisyjna mikroskopia elektronowa z trybem cryo-TEM oraz techniką tomografii elektronowej Warunki pomiaru: Działo elektronowe – emisja polowa (FEG) Napięcie przyspieszające ≤ 200kV Możliwość rejestracji obrazów cryo-TEM, HRTEM, BF/DF TEM i SAD Technika cryo-TEM próbek mokrych lub w zawiesinie Możliwość pracy w trybie LowDose Możliwość w pełni automatycznej akwizycji serii