Lorem ipsum dolor sit amet, conse ctetur adip elit, pellentesque turpis.

Aparatura CMPW-PAN

0
Aparatura Zakupiona ze środków RPO woj. Śląskiego

Urządzenie do witryfikacji zanurzeniowej próbek zawiesin w kontrolowanych warunkach temperatury i wilgotności dla potrzeb techniki cryo-TEM Warunki pomiaru  Automatyczny proces szokowego zamrażania próbki w czynniku kriogenicznym (ciekły etan, propan, azot),  Proces aplikowania próbki na siatkę, przy zapewnionej kontroli: temperatury – w zakresie od

0
Aparatura Zakupiona ze środków RPO woj. Śląskiego

Kamera do akwizycji obrazów TEM ze specjalistycznym oprogramowaniem do tomografii elektronowej,  Warunki pomiaru  Kamera typu CMOS (Complementary Metal Oxide Semiconductor) ze sprzężeniem światłowodowym pracująca przy napięciu przyspieszającym ≤ 200 kV.  Możliwości badawcze Współpracuje z mikroskopem TEM w trybie pracy LowDose Możliwość rejestracji obrazów cryo-TEM, HRTEM, BF/DF TEM i SAD Możliwość w

0
Aparatura CMPW-PAN, Aparatura Zakupiona ze środków RPO woj. Śląskiego

Detektor MALLS DAWN HELEOS firmy WYATT Detektor refraktometryczny SEC-3010 WGE firmy Dr. Bures,  Detektor UV-Vis Agilent 1260 firmy Agilent Technologies Pompa izokratyczna AGILENT 1260 firmy Agilent Technologies Technika Chromatografia żelowa Sec MALLS Warunki pomiaru  Środowisko DMF, temperatura 45°C. Możliwości badawcze Wyznaczanie liczbowo (Mn) i wagowo (Mw) średnich mas molowych oraz rozkładów mas

0
Aparatura CMPW-PAN, Aparatura Zakupiona ze środków RPO woj. Śląskiego

Technika Przetwórstwo tworzyw polimerowych Warunki pomiaru: Jednostka sterująco-napędowa Brabender Lab Station Plasti-corder: Moment obrotowy napędu 400 Nm (odchylenie momentu obrotowego 0,15%), Zakres pracy jednostki od 0,2 obrotów/min do 350 obrotów/min, Ślimaki segmentowe, Pomiar momentu obrotowego w pełnym zakresie możliwości napędu, Możliwość pracy z modułami mieszającymi periodycznymi oraz wytłaczającymi jedno-

0
Aparatura CMPW-PAN

Technika Mikroskopia świetlna Warunki pomiaru: światło odbite: obiektywy imersyjne  - 20x, 40x, 50x  obiektywy zwykłe – 8x, 16x światło przechodzące – obiektywy zwykłe: 10x, 20x, 40x  cyfrowy aparat fotograficzny Możliwości badawcze: Analiza mikrostruktury węgli i materiałów węglowych oraz innych próbek odbijających światło Analiza mikrostruktury materiałów przezroczystych Kierownik Pracowni: Dr hab. Sławomira Pusz, spusz@cmpw-pan.pl, tel. .

0
Aparatura CMPW-PAN

Technika Pomiar rozkładu wielkości cząstek metodąspektroskopii tłumienia akustycznego Warunki pomiaru: Temperatura 25 – 30 oC Próbki stałe w zawiesinach wodnych lub organicznych o stężeniu od 0.1 – 50% obj. Zawiesina mieszana podczas pomiaru, co zapobiega sedymentacji i agregacji. Możliwości badawcze: Określanie rozkładu wielkości cząstekstałych w zakresie od 10

0
Aparatura CMPW-PAN

Technika Elipsometria spektroskopowa, elipsometria zmienno-temperaturowa cienkich warstw Warunki pomiaru: Zakres spektralny 240 - 2500 nm Pomiary w modzie odbiciowym Pomiary w modzie transmisyjnym Pomiary temperaturowe w zakresie od –150 ⁰C do + 450⁰C Możliwość pomiaru rezystancji elektrycznej, jednocześnie z pomiarami elipsometrycznymi Możliwości badawcze: Pomiary bez konieczności modelowania: kąty elipsometyczne Ψ

0
Aparatura CMPW-PAN

Technika Spektroskopia fluorescencyjna Warunki pomiaru: zakres rejestrowanego widma 220-800nm szerokość szczeliny 2,5 – 20 nm dokładność długości fali ± 3,0 nm szybkość skanowania długości fali 15, 60, 300, 1500, 3000 nm / min aparat wyposażony w przystawkę  dla kuwet o długości drogi optycznej do 10 mm oraz przystawkę

Skip to content