Lorem ipsum dolor sit amet, conse ctetur adip elit, pellentesque turpis.

Aparatura Zakupiona ze środków RPO woj. Śląskiego

Urządzenie do witryfikacji zanurzeniowej próbek zawiesin w kontrolowanych warunkach temperatury i wilgotności dla potrzeb techniki cryo-TEM Warunki pomiaru  Automatyczny proces szokowego zamrażania próbki w czynniku kriogenicznym (ciekły etan, propan, azot),  Proces aplikowania próbki na siatkę, przy zapewnionej kontroli: temperatury – w zakresie od

Kamera do akwizycji obrazów TEM ze specjalistycznym oprogramowaniem do tomografii elektronowej,  Warunki pomiaru  Kamera typu CMOS (Complementary Metal Oxide Semiconductor) ze sprzężeniem światłowodowym pracująca przy napięciu przyspieszającym ≤ 200 kV.  Możliwości badawcze Współpracuje z mikroskopem TEM w trybie pracy LowDose Możliwość rejestracji obrazów cryo-TEM, HRTEM, BF/DF TEM i SAD Możliwość w

Detektor MALLS DAWN HELEOS firmy WYATT Detektor refraktometryczny SEC-3010 WGE firmy Dr. Bures,  Detektor UV-Vis Agilent 1260 firmy Agilent Technologies Pompa izokratyczna AGILENT 1260 firmy Agilent Technologies Technika Chromatografia żelowa Sec MALLS Warunki pomiaru  Środowisko DMF, temperatura 45°C. Możliwości badawcze Wyznaczanie liczbowo (Mn) i wagowo (Mw) średnich mas molowych oraz rozkładów mas

Technika Przetwórstwo tworzyw polimerowych Warunki pomiaru: Jednostka sterująco-napędowa Brabender Lab Station Plasti-corder: Moment obrotowy napędu 400 Nm (odchylenie momentu obrotowego 0,15%), Zakres pracy jednostki od 0,2 obrotów/min do 350 obrotów/min, Ślimaki segmentowe, Pomiar momentu obrotowego w pełnym zakresie możliwości napędu, Możliwość pracy z modułami mieszającymi periodycznymi oraz wytłaczającymi jedno-

Technika Dyfrakcja Promieni Rentgenowskich Techniki pomiarowe: standardowa dyfrakcja rentgenowska, transmisja w cienkich warstwach oraz w kapilarach, grazingincidence (GIXRD), reflektometria (XRR), pomiary naprężeń szczątkowych metodą izo-inklinacji oraz pomiary naprężeń podczas rozciągania – z wykorzystaniem przystawki DEBEN, Warunki pomiaru: Moc maksymalna 3,0 kW, napięcie prądu 20-50kV

Technika Mikroskopia sił atomowych (AFM) do charakterystyki powierzchni materiałów polimerowych i węglowych oraz struktur biologicznych Warunki pomiaru: obrazowanie topografii powierzchni próbki przy użyciu trybu kontaktowego oraz przerywanego kontaktu (Tapping Mode) obrazowanie w temperaturze pokojowej możliwość obrazowania w atmosferze powietrza lub cieczy (woda) obrazowanie próbek o wymiarach:

Technika Dynamiczne i statyczne rozpraszanie światła Warunki pomiaru: Zakres temperatury pomiaru od 15 ºC do 80ºC Laser półprzewodnikowy o długości fali 637 nm i mocy wyjściowej 40mW Próbka w postaci rozcieńczonych roztworów Możliwości badawcze: Pomiar statycznego i dynamicznego rozpraszania światła przez rozcieńczone roztwory Wyznaczanie rozkładów rozmiarów Wyznaczanie promienia hydrodynamicznego  Wyznaczanie