Lorem ipsum dolor sit amet, conse ctetur adip elit, pellentesque turpis.

Aparatura CMPW-PAN

Technika Dynamiczna analiza właściwości dielektrycznych Warunki pomiarów: Możliwości badawcze: Badanie właściwości dielektrycznych, tj. przenikalności dielektrycznej, współczynnika stratności, tg delta i przewodnictwa jonowego w funkcji czasu, temperatury oraz częstotliwości, Wyznaczania temperatury i energii relaksacji molekularnych, Monitorowanie sieciowania i polimeryzacji. Kierownik Pracowni: Dr hab. inż. Urszula Szeluga, uszeluga@cmpw-pan.pl, tel. tel. 32

Technika Dynamiczna termiczna analiza właściwości mechanicznych (DMA) Warunki badawcze: Możliwości badawcze: Wymienna geometria pomiarowa umożliwia prowadzenie pomiarów w trybie zginania, rozciągania,ściskania oraz ścinania w funkcji temperatury, częstotliwości czy też naprężeń lub odkształcenia. Badania właściwości lepkosprężystych materiałów, takich jak sztywność, moduł zachowawczy oraz moduł stratności, lepkość, właściwości tłumiące,

Technika Różnicowa Kalorymetria Skaningowa Warunki pomiaru: Możliwości badawcze: Wyznaczanie temperatury i entalpii przejść fazowych (topnienia, krystalizacji), Wyznaczanie temperatury zeszklenia polimerów, Badanie kinetyki reakcji polimeryzacji, sieciowania, syntezy, rozkładu, utleniania itp.  i wyznaczanie ich energii aktywacji, Badanie stopnia krystaliczności polimerów, Badanie własności termicznych nowych związków chemicznych, Oznaczanie czystości związków małocząsteczkowych. Kierownik Pracowni: Prof. dr hab.

Technika Mikroanaliza rentgenowska EDS Możliwości badawcze: analiza ilościowa składu pierwiastkowego (Z>3) w mikroobszarach oraz analiza jakościowa w nanoobszarach. próg detekcji EDS >0,1% (wag.) zależny od pierwiastka; typowa rozdzielczość przestrzenna>1μm. Kierownik Pracowni: Dr hab. Sławomira Pusz, spusz@cmpw-pan.pl, tel. +48 32 271 60 77 w. 250 Osoby decydujące i/lub wykonująca analizy: Dr inż. Marcin Godzierz, mgodzierz@cmpw-pan.pl, tel. +48

Technika Mikroskopia sił atomowych (AFM) Warunki pomiaru: Obrazowanie topografii powierzchni próbki przy użyciu trybu kontaktowego oraz przerywanego kontaktu (TappingMode) Możliwość obrazowania w atmosferze cieczy (woda) Możliwość obrazowania w podwyższonej temperaturze (do 60°C)  Obrazowanie próbek o średnicy do 1,5 cm i grubości do 0,5 cm, litych lub

Technika Mikroskopia sił atomowych (AFM) do charakterystyki powierzchni materiałów polimerowych i węglowych oraz struktur biologicznych Warunki pomiaru: obrazowanie topografii powierzchni próbki przy użyciu trybu kontaktowego oraz przerywanego kontaktu (Tapping Mode) obrazowanie w temperaturze pokojowej możliwość obrazowania w atmosferze powietrza lub cieczy (woda) obrazowanie próbek o wymiarach:

Technika                                                                Analiza termograwimetryczna Warunki pomiaru: Temperatura 25 do 900 ºC, Szybkość grzania 2-20°C/min., Praca w powietrzu lub w azocie, Masa próbki 10 -100 mg. Możliwości badawcze Pomiar zmiany masy próbki w funkcji temperatury lub czasu z równoczesną analizą termiczną. Badanie stabilności termicznej próbek. Kierownik Pracowni:   Prof. dr hab. Grażyna Adamus, gadamus@cmpw-pan.pl, tel. 32 271

Detektor refraktometryczny RI-101, Shodex Detektor UV-Vis Spectra 100 variable wevelenght detector, Spectra-Physics PompaVE 1122 solvent delivery system, VISCOTEC, Malvern Technika Chromatografia żelowa  Warunki pomiaru: Środowisko chloroform, temperatura 35°C. Możliwości badawcze: Wyznaczanie liczbowo (Mn) i wagowo (Mw) średnich mas molowych oraz rozkładów mas molowych. Kierownik Pracowni:   Prof. dr hab. Grażyna Adamus, gadamus@cmpw-pan.pl, tel. 32 271

Technika Badania biodegradacji  Warunki pomiaru: Temperatura 58 ºC, Wilgotność: ±50 %, Rodzaje próbek: folie, film4y, kształtki,  Sensory: pomiar CO2. Aparat wyposażony w dziewięć bioreaktorów o pojemności 1 l każdy. Do bioreaktorów wprowadza się około 0,5 kg dojrzałego kompostu o średniej wilgotności 53%. i średnim pH równym 7.8. Bioreaktory umieszcza się w łaźni

Technika Badania mechaniczne Warunki pomiaru:  Zakres temperatur w komorze cieplnej od -70 °C do + 200 °C Możliwości badawcze: Pomiar właściwości mechanicznych, w tym pomiar wytrzymałości na rozciąganie, ściskanie i zginanie, pomiar modułów sprężystości oraz pomiar wydłużenia przy zerwaniu. Kierownik Pracowni:   Prof. dr hab. Janusz Kasperczyk, jkasperczyk@cmpw-pan.pl; tel. .